日本電子 / jem-2100 セラ研b棟122・学内外: 透過型電子顕微鏡室Ⅴ: 原子分解能分析電子顕微鏡 日本電子 / jem-arm200f 2号館121b室・学内外: 軟x線分光室: 軟x線分析装置 日本電子 / jxa-8230 2号館113b室・学内外: x線マイクロアナライザー室 最終的な成功をもたらします。 杉沢寿志（日本電子） 高橋貞幸（リガク） ... （4） 表面分析装置（aes，xps，esca，sims等） ... 日本で機器分析が始まったともいえるこの時期には，水素ガス電極ph計やキンヒドロン電極ph計も商品化さ … 表面分析とは何か？から最新技術まで、表面分析をご活用いただくための情報を掲載していきます。, 自動モデルのラボ型HAXPES装置「PHI Quantes」に、内蔵型Arモノマー/GCIBデュアルイオン銃の搭載が可能に。, サーベイイメージングでは、すべてのイメージピクセルでワイドスペクトルを測定します。, XPSと同様に信頼性の高いHAXPESスペクトルの取得が可能となり、表面分析の可能性が拡がっています。検出深さや軌道の選択範囲が広がり、さらに角度分解XPSの適用可能範囲も拡大しました。これまでの表面だけでなく、埋もれた界面の分析から界面の検出まで、新たな応用が期待できます。, 有機ELなどの有機半導体デバイスでは、伝導帯の電子状態が材料とデバイスの性能に直結します。近年、低エネルギー逆光電子分光法（LEIPS：Low Energy Inverse Photoelectron Spectroscopy）が提案され、これまで測定が困難だった有機物の伝導帯や電子親和力が再現性よく測定できるようになりました。このたび新たに PHI 5000 VersaProbe III の強力なオプションラインナップに加わった LEIPS を詳しく紹介します。, 反射電子エネルギー損失分光（REELS：Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy）は、炭素材料をはじめとした各種材料表面の化学状態や電子状態の情報が得られる分析法として要望が高まっています。各種オプション構成が可能な PHI 5000 VersaProbe IIIに、新たにREELS測定用の低エネルギー電子銃オプションを追加しました。, クラブ・ファイへ会員登録後、ソフトウェアアップデートファイルやカタログなどのダウンロードができます。, 資料請求やお見積もり、修理・メンテナンスなどについても、お気軽にお問い合わせください。. 表面や界面の制御による材料の高性能化・機能化 表面・界面の分析法→機器分析などのテキストも参考にする。 分光学的解析（赤外吸収分光法、X線光電子分光法、オージェ電子分光法、 このサイトでは、お客様の利便性や利用状況の把握などのためにCookieなどを使用してアクセスデータを取得・利用しています。これ以降ページを遷移した場合、Cookieなどの設定や使用に同意したことになります。ウェブサイトでの個人情報の取り扱い や 利用規約 をご覧ください。. 日本電子（jeol）のオフィシャルサイト。電子顕微鏡のトップメーカー。分析機器・医用機器・半導体関連機器・産業機器の製造・販売・開発・研究も手がける。yokogushi戦略をglobalに展開中。 これにより、高分子、化学品、医薬品、エレクトロニクス、 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。, ●特徴 表面・界面の形態、官能基の分析 2. 電子プローブマイクロアナライザー (Electron Probe Micro Analyzer; EPMA) とは、真空中で細く絞られた電子線を固体試料表面に照射し、表面の組織及び形態の観察とミクロンオーダーの局所元素分析を行う分析機器1,2) である。EPMAは、Castaing の1951 年の論文3) で公表されて以来、60 年以上にわたる歴史を持っている。金属材料の分析から始まり、地質鉱物、セラミックス、電子材料、半導体材料、さらには高分子材料や、食品、生体試料など、あらゆる固体試料の微小部分析に欠かせない装置となっ … ■圧力センサーを内蔵する高精度ATR対物鏡 ■光の回折限界のみに依存する高い空間分解能 機能をカスタマイズすることが可能な赤外顕微鏡システムです。 日本電子が60年の歴史の中で培った経験と実績。 理科学機器メーカーだからこそできる最新の分析技術と高性能装置で、専門スタッフがニーズにあった分析をサポートします。 核磁気共鳴装置 (nmr) 電子スピン共鳴装置 (esr) 計測機器. 微小領域分析・表面分析装置. 1 (2014) 表面分析装置によるLiイオン電池材料の解析事例 堤 建一、島 政英、田中 章泰 日本電子（株）SA事業ユニット 1．緒言 オージェ電子分光法（AES: Auger Electron Spectroscopy） とX線光電子分光法（XPS: X-ray Photoelectron ○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。 電解イオン顧微鏡（FIM：Field Ion Microscope）は鋭く尖った金属針先端の表面原子像を容易に観察できる投影型の顕微鏡で1951年にペンシルバニア州立大学のErwin E. Mueller教授により発明されました。本装置は、超高真空の環境の中で、試料としてセットした金属tip（探針）の電圧を除々に大きくしていくことで、スクリ−ンにFIM像を出現させ、針状の試料表面原子の凹凸を100万倍程度に拡大した像を肉眼で観察できるイオン検出形, 装置です。 さらにtipに印加する電圧を大きくすることで電界蒸発を行わせ、原子を個々にはぎ取り、先端原子の数を調整できるなど高度な実験が可能です。こうした本装置の優れた特性は、金属の原子レベルでの観察はもとより、先端の鋭い金属tipが不可欠な走査型トンネル顕微境のtip評価用として使われるなど幅広い用途に生かされ、多くの研究所、大学の研究室などで採用されています。, 『HYPERIONシリーズ』は、先端の研究開発アプリケーションに適合するよう、 蛍光X線分析装置 (卓上) 質量分析計. 電子プローブマイクロアナライザ (epma) オージェマイクロプローブ (auger) 光電子分光装置 (xps、esca) 磁気共鳴装置. 核磁気共鳴装置 (nmr) 電子スピン共鳴装置 (esr) 計測機器. 同時にtipに電圧が印加されることで先端部分の表面に付着している不純物を取り除くクリーニング効果が得られます。 試料であっても、効率的かつ確実な微量・微小分析をサポートします。 装置の説明. ■すべての測定モードに対応する自動マッピング機能 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。 ■高空間分解能と高感度を両立する高品位光学系 製品名: オージェ電子分光分析装置: メーカー: 日本電子: 説明文: 超高真空下で個体試料に電子をあて、蛍光x船よりも浅い表面分析に用いられます。 2019.02.13. 核磁気共鳴装置 (nmr) 電子スピン共鳴装置 (esr) 計測機器. る表面分析装置や形状測定, 観察装置で得られる情報と装 置の進歩を高分子への応用性に触れながら述べ, 次に表面 分析に際して参考になると思われる高分子や高分子表面の 特性について述べる. 型表面分析装置（島津 esca-3400 工学部より）を設置。 平成15年度 センター統合により生命科学総合実験センター機器分析分野に改名。 質量分析装置（日本電子 jms-700・amsun200）・走査型電子顕微鏡（日立 s-3000n）・ オージェ電子分光分析装置（fe-aes）とは、電子線などを固体表面に照射したときに放出されるオージェ電子のエネルギーと強度を測定することにより、固体表面の元素分析を行うものである。 第2回 の「高分子表面に関する分析」では, 放射光など 常々最適な手法を選定し分析を行う。 ・光電子【xps 】 ・二次イオン【tof-sims 】 ・中性粒子 ・二次電子 (sem ・tem ・fib)-(fib) 知りたい情報・分析条件・サンプルの材質等によって各種選択する。 表面分析の違い②【装置の特徴・性能】 Copyright © ULVAC-PHI, INCORPORATED. X線光電子分光分析装置 XPS. 1953年8月8日、日本初の表面処理薬剤メーカーとして起業いたしました。 お客様の希望される新しい技術を確立し、その技術に必要な薬剤を、開発し製造販売することを生業として、60年が経過いたしました。 この半世紀の間に、日本の産業界の変動と、拡張はすさまじいものでした。 反射電子エネルギー損失分光法（REELS） 反射電子エネルギー損失分光（REELS：Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy）は、炭素材料をはじめとした各種材料表面の化学状態や電子状態の情報が得られる分析法として要望が高まっています。 反射電子エネルギー損失分光法（REELS） 反射電子エネルギー損失分光（REELS：Reflection Electron Energy Loss Spectroscopy）は、炭素材料をはじめとした各種材料表面の化学状態や電子状態の情報が得られる分析法として要望が高まっています。 表面・界面の分析は何に役立つか 1. 試料のコントラストを向上させる数多くのツール、幅広い種類の対物鏡、 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。. 顕微鏡（表面分析）のメーカーや取扱い企業、製品情報をまとめています。イプロスは、ものづくり・都市まちづくり・医薬食品技術における情報を集めた国内最大級の技術データベースサイトです。, 走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U）や、元素マッピングが行えます。, 主な装置は「HR-TEM」「Ｑ-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの, におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 ガスクロマトグラフ質量分析装置(GC-MS) 日本電子製 JMS-K9 日本電子製 JMS-Q1500GC 島津製作所 GCMS-QP2010 Plus 他 計6台: 定性・定量分析（有機物質） 環境汚染分子有機物質の定性・定量分析 キャリア等からの発生ガス有機物質分析 XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy）では試料表面（～数nm）を構成する元素、組成だけではなく化学結合状態も調べることができます。分析対象元素はLi～Uです。 プローブに用いるX線のビーム径は最小10µmから設定可能であり、微小領域の分析にも対応しています。中和銃を用いた帯電補正による絶縁物の分析、Arイオンスパッタリングを併用することによる深さ方向組成分析も可能です。 All rights reserved. 電子プローブマイクロアナライザーjxa8530f（日本電子製） 表面の形態観察、構成元素の定性・定量、面分析 オージェ電子分光分析装置jamp－7800（日本電子製） 表面元素の深さ方向元素分析 二次イオン質量分析装置sms－4000（atomca製） 顕微鏡（表面分析）のメーカーや取扱い企業、製品情報をまとめています。イプロスは、ものづくり・都市まちづくり・医薬食品技術における情報を集めた国内最大級の技術データベースサイトです。 装置（昭和49年）等の表面分析装置を 次々と製品化するとともに，社名も昭 和36年に日本電子（株）と改め，今日 に至っています． q 一言で表面分析といっても，そ の領域は幅広いと思います．御社で手 掛けられている表面分析装置の原理・ 電子プローブマイクロアナライザ (epma) オージェマイクロプローブ (auger) 光電子分光装置 (xps、esca) 磁気共鳴装置. 電子プローブマイクロアナライザ (epma) オージェマイクロプローブ (auger) 光電子分光装置 (xps、esca) 磁気共鳴装置. 【微少領域形態観察　透過電子顕微鏡（HR-TEM）】 46 No. ★ x線分析装置（エネルギー分散型蛍光x線分析装置） 島津製 型式：edx-700hs: ★ xrf （蛍光x線分析装置） 日本電子製（jeol）／型式：jsx3222: ★ デジタルズームマイクロスコープ union製／型式：dz-2: ★ 工業用ガス成分分析装置 大塚電子製／型式：ig-2000 GC-MS、Gas Analysis MS; LC-MS(DART-MS)、MALDI-TOFMS; 質量分析計周辺機器; 半導体製造装置. PHI 710; PHI 4800; 飛行時間型二次イオン質量分析装置 TOF-SIMS. PHI nanoTOF II™ 四重極型二次イオン質量分析装置 D-SIMS. 日本電子（jeol）のオフィシャルサイト。電子顕微鏡のトップメーカー。分析機器・医用機器・半導体関連機器・産業機器の製造・販売・開発・研究も手がける。yokogushi戦略をglobalに展開中。 微小領域分析・表面分析装置. 41 日本電子news Vol. 表面分析装置 理研計器社製 ac-1: エネルギー走査範囲： 3.40～6.20ev: 千歳大 大気中光電子分光測定装置 理研計器社製 ac-3: エネルギー走査範囲4.0～7.0ev スポットサイズ 2×4mm角: 東北大: x線光電子分光装置･xps 島津クレートス社製 axis-ultra dld: 北陸先端大 電子ビーム描画装置; 成膜関連機器・材料生成機器. 【特長】 2019.02.13. さらにはケミカルイメージング機能が用意されており、きわめて繊細な X線光電子分光分析装置は、材料・製品の極表面における組成分析、元素の化学状態を解析する表面分析装置です。 －測定の原理－ 真空中で固体表面にX線を照射すると、X線によってエネルギーをもらった表面原子から電子が飛び出します。 表面分析装置の購入を ... x線光電子分光分析装置 xps; 走査型オージェ電子分光分析装置 aes; 飛行時間型二次イオン質量分析装置 tof-sims; 四重極型二次イオン質量分析装置 d-sims; PHI Quantes; PHI Quantera II™ PHI 5000 VersaProbe III; PHI X-tool; 走査型オージェ電子分光分析装置 AES. 微小領域分析・表面分析装置. ライフサイエンス、法科学、芸術保存等、様々な研究分野の分析において